产品型号:JSM-6360LA
　　生产厂家:日本电子
　　仪器主要特点:
　　一、仪器主要配制
　　1． 二次电子检测器（SEI）
　　2． 背散射电子检测器（BEI）
　　3． 电子能谱仪（EDS）
　　二、仪器主要特点
　　1．高真空状态下加速电压在30Kv时分辩率可以达到3.0nm。
　　2．低真空状态下加速电压在30Kv时分辩率可以达到4.0nm。
　　3．放大倍率在5至300,000倍范围内可调。
　　4．检测器分为二次电子检测器和背散射电子检测器。
　　5．成像模式分为二次电子像、背散射电子像、成份像、立体像等。
　　6．加速电压在0.5KV至30KV(53步)范围内可调。
　　7．低真空模式下真空度在1至270帕范围内可调。
　　8．灯电流在1pA至1uA范围内可调。
　　仪器主要用途：
　　1．扫描电镜可以在各种环境下非破坏性地分析测定各种物质的形态及成份的现代分析。
　　2．可对各种物质进行定性定量分析、元素组成及分布分析。
　　3．可选用不同的样品室压力对样品进行形貌观测的成份分析，可以对金属材料、无机材料、有机材料，纳米材料进行研究及表面状态分析。
　　面向学科：
　　其应用领域涉及到材料、电子、 生物、机械、 冶金 、化工、化学、食品、医药、建筑等诸多学科。